QWED 制造多种类型的谐振器(也称为测试夹具),用于在微波频率下精确测量材料的电磁特性。每个谐振器都配备了专门的软件,用于从测量中提取相关数据(通常是复介电常数或实介电常数和损耗角正切)。谐振器和随附的软件基于 QWED 专家 Jerzy Krupka 教授领导的多年研究,并记录在数十种全球知名的科学和技术出版物中。谐振器的质量得到了行业从业者、领先研究人员和行业标准制定者的认可。
SPDR 用于测量层状介电材料的复介电常数,包括 LTCC 基板,以及沉积在低损耗介电基板上的铁电薄膜。此外,SPDR 可用于测量各种导电材料的表面电阻和电导率,例如商用电阻层、导电聚合物薄膜或高电阻率半导体。此类测量仅适用于 Rs > 5 kΩ/square 的大型表面电阻样品。
名称:谐振器
类型:SPRD
1. 【产品介绍】
QWED 制造多种类型的谐振器(也称为测试夹具),用于在微波频率下精确测量材料的电磁特性。每个谐振器都配备了专门的软件,用于从测量中提取相关数据(通常是复介电常数或实介电常数和损耗角正切)。谐振器和随附的软件基于 QWED 专家 Jerzy Krupka 教授领导的多年研究,并记录在数十种全球知名的科学和技术出版物中。谐振器的质量得到了行业从业者、领先研究人员和行业标准制定者的认可。
SPDR 用于测量层状介电材料的复介电常数,包括 LTCC 基板,以及沉积在低损耗介电基板上的铁电薄膜。此外,SPDR 可用于测量各种导电材料的表面电阻和电导率,例如商用电阻层、导电聚合物薄膜或高电阻率半导体。此类测量仅适用于 Rs > 5 kΩ/square 的大型表面电阻样品。
2. 【技术参数】
测量精度 Δε/ε=±(0.0015 + Δh/h)
Δtanδ=±2*10 -5或 ±0.03*tanδ 取较高者
工作频率范围 1.1 GHz、2.45 GHz、5 GHz、10 GHz 和15 GHz
工作温度 -270℃ ~ 110℃
额外配套设备 微波 Q 计或矢量网络分析仪
测量程序 提供了用于介电常数和介电损耗角正切测定的专用软件
附加信息 样本的最小尺寸取决于谐振器的工作频率
3. 【产品结构】
4. 【产品应用】
SPDR 用于测量层状介电材料的复介电常数,包括 LTCC 基板,以及沉积在低损耗介电基板上的铁电薄膜。此外,SPDR 可用于测量各种导电材料的表面电阻和电导率,例如商用电阻层、导电聚合物薄膜或高电阻率半导体。此类测量仅适用于 Rs > 5 kΩ/square 的大型表面电阻样品。